電子顯微鏡的產(chǎn)品系列日益完善，應(yīng)用范圍自然也會相應(yīng)拓寬，即便是專業(yè)性極強(qiáng)的行業(yè)領(lǐng)域中，對于電鏡產(chǎn)品的依賴性也相對較強(qiáng)，但前提是不同的工作模式，對于產(chǎn)品的功能類型要加以匹配，至于FIB-SEM的實(shí)踐應(yīng)用，則是在自動結(jié)構(gòu)分析和TEM樣品制備以及納米原型設(shè)計(jì)中備受青睞。其實(shí)不管產(chǎn)品類型和功能如何變化，只要能夠在匹配的應(yīng)用中取得符合要求的顯著成效，在錯(cuò)綜復(fù)雜的行業(yè)環(huán)境中，就能夠逐步實(shí)現(xiàn)利用率的提升。
眾所周知，自動結(jié)構(gòu)分析是具有較高專業(yè)水準(zhǔn)的工作模式，如果沒有可信賴電鏡產(chǎn)品作為依托，分析過程中難免會遇到很多不確定因素的干擾，從而導(dǎo)致分析結(jié)果無法達(dá)到預(yù)期水平。而在采用了
FIB-SEM相對應(yīng)的儀器設(shè)備以后，不僅能夠明顯提升分析效率，而且效果水平的提高幅度也會在此基礎(chǔ)上有所增加，從而為產(chǎn)品設(shè)備的價(jià)值體現(xiàn)奠定基礎(chǔ)。
材料表面的研究分析，同樣離不開功能匹配的電鏡儀器，這也是在持續(xù)工作中總結(jié)出來的經(jīng)驗(yàn)之談，目前來看
XPS儀器對于材料表面工藝的應(yīng)用需求更容易給予充分滿足。依托電鏡儀器進(jìn)行材料表面的精細(xì)化分析，會在高性能和功能化方面表現(xiàn)出得天獨(dú)厚的優(yōu)勢，以此作為契機(jī)改進(jìn)固有的應(yīng)用策略，自然會對整體效果帶來明顯改善。
由此可見，針對不同的分析流程和應(yīng)用條件，靈活調(diào)整電競儀器的配置策略還是很有必要的，畢竟這對充分發(fā)揮XPS儀器卓越的性能優(yōu)勢，能夠從不同角度起到很好的輔助作用。無論分析類型如何變化，電鏡儀器的功能匹配度都有必要大幅度提高，從而為切實(shí)保障具體分析的整體效果不會受到干擾，在此基礎(chǔ)上的分析結(jié)果也是值得信賴的。
